閑的沒事用對(duì)一個(gè)臺(tái)電黑膠體U盤做了一次全掃，發(fā)現(xiàn)了有3處錯(cuò)誤。于是想下載量產(chǎn)工具對(duì)其進(jìn)行壞塊屏蔽（這個(gè)盤本來也沒用幾次，主要拿去打印店打印文檔的），經(jīng)過這個(gè)U盤來測試一般TLC閃存的U盤壽命有多久；以下軟件都可以點(diǎn)名字去免費(fèi)下載到。
1.        討論Flash壽命測試方法
2.        HD Tune壞塊檢測功能對(duì)于Flash產(chǎn)品不適用
3.        可使用檢測U盤邏輯儲(chǔ)存錯(cuò)誤以判斷U盤狀態(tài)
U盤用chipgenius檢查具體信息如下：

檢測結(jié)果如下：

8GB 閃迪 TLC 主控型號(hào)為：
量產(chǎn)圖

打開量產(chǎn)工具發(fā)現(xiàn)該工具并不支持低格及壞塊掃描，于是判斷該主控可能不支持壞塊管理和磨損平衡，于是萌生了測試U盤壽命的想法。
1.        壽命測試
使用軟件Check Flash對(duì)U盤進(jìn)行寫入校檢，測試邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤。由于該U盤不支持平衡磨損，遂將U盤格式化為Fat32，系統(tǒng)最大只能使用4GB作為測試空間。黑膠體U盤很容易發(fā)熱，所以采用水冷方式散熱，溫度保持在20℃。
歷經(jīng)一周多日日夜夜的連續(xù)測試，數(shù)據(jù)如下，其中，縱軸代表邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，橫軸代表寫入次數(shù)。

可以看到，寫入次數(shù)在120次之前，邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)較穩(wěn)定，當(dāng)寫入次數(shù)在150次之后，邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)井噴式增長，寫入達(dá)到200次時(shí)，我終止了測試。這個(gè)盤能夠穩(wěn)定使用的寫入周期已經(jīng)明了。。。
之前我曾使用同樣方法測試一款群聯(lián)主控U盤，在燒入鏡像后留出10MB空間用于測試，結(jié)果寫入周期達(dá)到50000次時(shí)仍未發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤井噴式增長。原因可能是由于主控支持磨損平衡，而我劃分的測試區(qū)域又小，不足以抵抗磨損平衡算法。
因此，測試Flash壽命的可靠方法有二：1）使用不支持磨損平衡的主控---貌似不多了 2）全盤寫入校檢---用時(shí)長
2.        在測試結(jié)束后，使用HD Tune掃描U盤壞塊：

你沒看錯(cuò)，全綠通過！而我將右邊圖形顯示方式改為速度圖后，結(jié)果完全變了。。。

從壞塊圖中我們無法看到經(jīng)過長時(shí)間測試之后這個(gè)U盤有任何問題，而其速度圖可以直觀的顯示出測試區(qū)（4GB）和未測試區(qū)（3.6GB）的速度差異！
主 要原因：經(jīng)過多次寫入，該部分Flash已經(jīng)出現(xiàn)所謂壞塊，只不過HD Tune是以磁盤容量來劃分每個(gè)測試塊大小，當(dāng)壞塊個(gè)數(shù)（容量）低于某一個(gè)值時(shí)，整個(gè)HD測試塊并不會(huì)劃定為已經(jīng)損壞。但是在進(jìn)行讀寫操作時(shí)，大量的 Flash壞塊會(huì)導(dǎo)致延遲增大，這也是為何HD Tune兩種圖差異明顯的原因。因此我認(rèn)為HD Tune或是相似原理的軟件不適合檢測U盤的健康狀態(tài)。
3.        Check Flash 可以用來測試U盤健康狀態(tài)
之 所以選用Check Flash 是因?yàn)樗�可以精確顯示每個(gè)扇區(qū)物理地址的錯(cuò)誤，例如TLC測試時(shí)，寫入 010101 ，而校驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn) 000101，那么這就算一個(gè)錯(cuò)誤。雖然ECC可以修正這種錯(cuò)誤，但是存在這么一個(gè)不穩(wěn)定的扇區(qū)，相信大家也是會(huì)想辦法修正的吧。之前簡單測試過，安國主 控ECC2以內(nèi)，一個(gè)邏輯錯(cuò)誤都沒有，越大邏輯錯(cuò)誤越多。